Документы по классификатору
31.200 Интегральные схемы. Микроэлектроника Вернуться в начало каталога Вернуться назад
Классификатор ISO → 31 ЭЛЕКТРОНИКА → 31.200 Интегральные схемы. Микроэлектроника Документы раздела 31.200 Интегральные схемы. МикроэлектроникаПоказать легенду  ГОСТ 17021-71 - Микросхемы. Термины и определения ГОСТ 17021-75 - Микросхемы интегральные. Термины и определения ГОСТ 17021-88 - Микросхемы интегральные. Термины и определения ГОСТ 17230-71 - Микросхемы интегральные. Ряд питающих напряжений ГОСТ 17447-72 - Микросхемы интегральные для цифровых вычислительных машин и устройств дискретной автоматики. Основные параметры ГОСТ 17467-88 - Микросхемы интегральные. Основные размеры ГОСТ 18683.0-83 - Микросхемы интегральные цифровые. Общие требования при измерении электрических параметров ГОСТ 18683.1-83 - Микросхемы интегральные цифровые. Методы измерения статических электрических параметров ГОСТ 18683.2-83 - Микросхемы интегральные цифровые. Методы измерения динамических электрических параметров ГОСТ 18725-83 - Микросхемы интегральные. Общие технические условия ГОСТ 19480-89 - Микросхемы интегральные. Термины, определения и буквенные обозначения электрических параметров ГОСТ 19799-74 - Микросхемы интегральные аналоговые. Методы измерения электрических параметров и определения характеристик ГОСТ 20281-74 - Микромодули этажерочной конструкции. Методы измерения электрических параметров ГОСТ 23070-78 - Анализ и оптимизация на ЭВМ радиоэлектронных схем. Термины и определения ГОСТ 23089.0-78 - Микросхемы интегральные. Общие требования при измерении электрических параметров операционных усилителей и компараторов напряжения ГОСТ 23089.1-83 - Микросхемы интегральные. Метод измерения коэффициента усиления операционных усилителей и компараторов напряжения ГОСТ 23089.10-83 - Микросхемы интегральные. Метод измерения максимальной скорости и времени нарастания выходного напряжения операционных усилителей ГОСТ 23089.11-83 - Микросхемы интегральные. Методы измерения коэффициента ослабление синфазных входных напряжений операционных усилителей и компараторов напряжения ГОСТ 23089.12-86 - Микросхемы интегральные. Методы измерения шумовых параметров операционных усилителей ГОСТ 23089.13-86 - Микросхемы интегральные. Методы измерения частоты среза и частоты единичного усиления операционных усилителей ГОСТ 23089.14-88 - Микросхемы интегральные. Методы измерения времени задержки включения и выключения компараторов напряжения ГОСТ 23089.15-90 - Микросхемы интегральные. Метод измерения частоты полной мощности операционных усилителей ГОСТ 23089.16-90 - Микросхемы интегральные. Метод измерения запаса устойчивости по фазе операционных усилителей ГОСТ 23089.17-90 - Микросхемы интегральные. Методы измерения входного и выходного сопротивлений операционных усилителей ГОСТ 23089.2-83 - Микросхемы интегральные. Метод измерения максимального выходного напряжения операционных усилителей ГОСТ 23089.3-83 - Микросхемы интегральные. Метод измерения напряжения и э.д.с смещения нуля опреционных усилителей и компараторов напряжения ГОСТ 23089.4-83 - Микросхемы интегральные. Метод измерения входных токов и разности входных токов операционных усилителей и компараторов напряжения ГОСТ 23089.5-83 - Микросхемы интегральные. Метод измерения тока потребления и потребляемой мощности операционных усилителей и компараторов напряжения ГОСТ 23089.6-83 - Микросхемы интегральные. Метод измерения времени установления выходного напряжения операционных усилителей ГОСТ 23089.7-83 - Микросхемы интегральные. Метод измерения коэффициента влияния нестабильности источников питания на напряжение и э.д.с смещения нуля операционных усилителей ГОСТ 23089.8-83 - Микросхемы интегральные. Метод измерения среднего температурного дрейфа напряжения и э.д.с смещения нуля операционных усилителей ГОСТ 23089.9-83 - Микросхемы интегральные. Метод измерения среднего температурного дрейфа входных токов и разности входных токов операционных усилителей ГОСТ 23622-79 - Элементы логические интегральных микросхем. Основные параметры ГОСТ 24459-80 - Микросхемы интегральные запоминающих устройств и элементов запоминающих устройств. Основные параметры ГОСТ 24460-80 - Микросхемы интегральные цифровых устройств. Основные параметры ГОСТ 24613.0-81 - Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Общие положения при измерении электрических параметров ГОСТ 24613.1-81 - Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения проходной емкости ГОСТ 24613.10-77 - Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения тока помехи и напряжения помехи низкого и высокого уровней переключателей логических сигналов ГОСТ 24613.11-77 - Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения входного напряжения низкого и высокого уровней переключателей логических сигналов ГОСТ 24613.12-77 - Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения выходного напряжения низкого и высокого уровней переключателей логических сигналов ГОСТ 24613.13-77 - Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения выходного тока короткого замыкания переключателей логических сигналов ГОСТ 24613.14-77 - Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения токов потребления при низком и высоком уровнях выходного напряжения переключателей логических сигналов ГОСТ 24613.15-77 - Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения тока потребления, переключения и длительности тока потребления переключения переключателей логических сигналов ГОСТ 24613.16-77 - Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения начального остаточного напряжения коммутаторов аналоговых сигналов ГОСТ 24613.17-77 - Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения выходного дифференциального сопротивления коммутаторов аналоговых сигналов ГОСТ 24613.18-77 - Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения сопротивления изоляции ГОСТ 24613.19-77 - Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения коэффициента передачи по току ГОСТ 24613.2-81 - Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения тока утечки ГОСТ 24613.3-81 - Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения входного напряжения ГОСТ 24613.4-81 - Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения времени включения и выключения коммутаторов аналоговых сигналов и нагрузки ГОСТ 24613.5-81 - Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения нулевого выходного остаточного напряжения коммутаторов аналоговых сигналов и нагрузки ГОСТ 24613.6-81 - Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения напряжения изоляции ГОСТ 24613.7-83 - Оптопары резисторные. Метод измерения светового и темнового выходного сопротивления ГОСТ 24613.8-83 - Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Методы измерения критической скорости изменения напряжения изоляции ГОСТ 24613.9-83 - Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения временных параметров ГОСТ 26949-86 - Микросхемы интегральные. Методы измерения электрических параметров непрерывных стабилизаторов напряжения ГОСТ 26975-86 - Микросборки. Термины и определения ГОСТ 27694-88 - Микросхемы интегральные. Усилители низкой, промежуточной и высокой частоты. Методы измерения электрических параметров ГОСТ 27780-88 - Микросхемы интегральные. Коммутаторы и ключи. Методы измерения электрических параметров ГОСТ 28111-89 - Микросборки на цилиндрических магнитных доменах. Термины и определения ГОСТ 28623-90 - Приборы полупроводниковые. Часть 10. Общие технические условия на дискретные приборы и интегральные микросхемы ГОСТ 28814-90 - Микросхемы интегральные. Методы измерения электрических параметров схем управления импульсными стабилизаторами напряжения ГОСТ 29106-91 - Приборы полупроводниковые. Микросхемы интегральные. Часть 1. Общие положения ГОСТ 29107-91 - Приборы полупроводниковые. Микросхемы интегральные. Часть 2. Цифровые интегральные схемы ГОСТ 29108-91 - Приборы полупроводниковые. Микросхемы интегральные. Часть 3. Аналоговые интегральные схемы ГОСТ 29109-91 - Приборы полупроводниковые. Микросхемы интегральные. Часть 4. Интерфейсные интегральные схемы ГОСТ 30350-96 - Микросхемы интегральные аналоговые. Общие требования к измерительной аппаратуре и условиям измерения электрических параметров ГОСТ 4.465-87 - Система показателей качества продукции. Микросхемы интегральные. Номенклатура показателей ГОСТ Р 50044-2009 - Изделия электронной техники для поверхностного монтажа радиоэлектронной аппаратуры. Требования к конструктивной совместимости ГОСТ Р 50044-92 - Микросхемы интегральные и приборы полупроводниковые для поверхностного монтажа. Требования к конструкции ГОСТ Р 53734.5.6-2021 - Электростатика. Защита электронных устройств от электростатических явлений. Микросхемы интегральные и приборы полупроводниковые ГОСТ Р 54843-2011 - Изделия микросистемной техники. Элементы чувствительные микроэлектромеханических преобразователей физических величин. Общие технические условия ГОСТ Р 54844-2011 - Микросхемы интегральные. Основные размеры ГОСТ Р 55893-2013 - Микросхемы интегральные. Основные параметры ГОСТ Р 57393-2017 - Преобразователи линейного ускорения микроэлектромеханические. Методы измерений параметров ГОСТ Р 57394-2017 - Микросхемы интегральные и приборы полупроводниковые. Методы ускоренных испытаний на безотказность ГОСТ Р 57395-2017 - Преобразователи угла цифровые. Общие требования к средствам измерений, испытаний и контроля входных и выходных параметров ГОСТ Р 57435-2017 - Микросхемы интегральные. Термины и определения ГОСТ Р 57441-2017 - Микросхемы интегральные. Термины, определения и буквенные обозначения электрических параметров ГОСТ Р 59702-2021 - Монолитные интегральные схемы сверхвысокочастотного диапазона. Термины и определения ГОСТ Р 59703-2021 - Монолитные интегральные схемы сверхвысокочастотного диапазона. Классификация и система условных обозначений ГОСТ Р 59749-2021 - Монолитные интегральные схемы сверхвысокочастотного диапазона. Система параметров ГОСТ Р 70795-2023 - Микросхемы интегральные. Коммутаторы и ключи. Система параметров ГОСТ Р 70845-2023 - Микросхемы интегральные. Термины, определения и буквенные обозначения параметров цифро-аналоговых и аналого-цифровых преобразователей ГОСТ Р 70969-2023 - Микросхемы интегральные на основе базовых кристаллов. Термины и определения ГОСТ Р 71059-2023 - Микросхемы интегральные. Операционные усилители. Система параметров ГОСТ Р 71060-2023 - Микросхемы интегральные. Усилители. Система параметров ГОСТ Р 71068-2023 - Микросхемы интегральные микропроцессорные. Система параметров ГОСТ Р 71071-2023 - Микросхемы интегральные. Схемы задержки. Система параметров ГОСТ Р 71074-2023 - Микросхемы интегральные. Запоминающие устройства на цилиндрических магнитных доменах. Термины, определения и буквенные обозначения параметров ГОСТ Р 71285-2024 - Микросхемы интегральные. Фильтры. Общие требования при измерении электрических параметров ГОСТ Р 71376-2024 - Микросхемы интегральные. Фильтры. Метод измерения приведенного ко входу напряжения шумов, уровня выходных псофометрических шумов ГОСТ Р 71426-2024 - Микросхемы интегральные. Фильтры. Метод измерения коэффициента усиления напряжения, коэффициента неравномерности амплитудно-частотной характеристики, коэффициента ослабления напряжения в полосе задерживания ГОСТ Р 71428-2024 - Микросхемы интегральные. Фильтры. Метод измерения уровня разряда аналогового запоминающего устройства ГОСТ Р 71479-2024 - Микросхемы интегральные. Цифро-аналоговые и аналого-цифровые преобразователи. Общие требования при измерении параметров ГОСТ Р 71584-2024 - Технологии А3Б5. Пластины с кристаллами заказных элементов. Термины и определения ГОСТ Р 71646-2024 - Изделия криоэлектронные и с термоэлектронным охлаждением. Методы измерения шумовой температуры в диапазоне 4-100 К ГОСТ Р 71694-2024 - Микросхемы интегральные. Методы измерения коэффициента усиления переменного напряжения операционных усилителей ГОСТ Р 71761-2024 - Материалы органические полимерные. Методы определения температуры стеклования ГОСТ Р 71898-2024 - Микросхемы интегральные и приборы полупроводниковые. Межоперационное хранение пластин кристаллов ГОСТ Р 71899-2024 - Термисторы. Метод измерения динамического сопротивления ГОСТ Р 71914-2024 - Микросхемы интегральные на общей пластине и приборы полупроводниковые на общей пластине и разделенные на кристаллы. Порядок приемки и поставки ГОСТ Р 71915-2024 - Термисторы. Методы измерения коэффициента тепловой связи ГОСТ Р 72507-2026 - Критическая информационная инфраструктура. Микросхемы интегральные доверенные. Общие требования к производству ГОСТ Р МЭК 748-11-1-2001 - Приборы полупроводниковые. Интегральные схемы. Часть 11. Раздел 1. Внутренний визуальный контроль полупроводниковых интегральных схем, за исключением гибридных схем ОСТ 11 0078.3-84 - Микросхемы интегральные. Аналого-цифровые преобразователи. Методы измерения параметров характеристики преобразования ОСТ 11 032.925-84 - Структуры кремниевые эпитаксиальные со скрытым слоем. Правила приемки ОСТ 11 050.068-83 - Микросхемы интегральные и приборы полупроводниковые. Метод контроля дефектов структуры приповерхностных слоев пластин ОСТ 11 054.272-81 - Приборы полупроводниковые и микросхемы интегральные. Золочение изделий в фосфатных электролитах. Технологический процесс ОСТ 11 068.019-77 - Комплексная система контроля качества. Средства контроля качества изделий электронной техники. Общие технические требования ОСТ 11 14.7006-87 - Микросхемы интегральные и приборы полупроводниковые. Технические требования к технологическому процессу литографии ОСТ 84-1924-81 - Микросхемы и приборы полупроводниковые. Требования и методы защиты от статического электричества в условиях применения ОСТ 92-1615-74 - Полупроводниковые приборы и микросхемы. Меры защиты от статического электричества ПНСТ 911-2024 - Критическая информационная инфраструктура. Доверенные интегральные микросхемы и электронные модули. Общие положения Проект ГОСТ Р - Электронная компонентная база. Микросхемы интегральные. Приборы полупроводниковые. Требования к порядку, условиям и длительности хранения кристаллов Проект ГОСТ Р - Электронная компонентная база. Пластины с кристаллами заказанных элементов. Общие технические условия Проект ГОСТ Р - Электронная компонентная база. Порядок выполнения работ при взаимодействии разработчика микросхем и изготовителя пластин с кристаллами заказанных элементов РД 11 054.298-84 - Микросхемы интегральные и полупроводниковые приборы. Технологический процесс надрезания пластин кремния РД 11 14.3319-90 - Микросхемы интегральные и приборы полупроводниковые. Требования к технологическому процессу ионного легирования пластин кремния РД 11 14.3325-90 - Микросхемы интегральные гибридные, дискретные приборы электронной техники. Технические требования к технологическому процессу разделения пластин диэлектрических материалов на элементы СТ СЭВ 505-77 - Микросхемы интегральные цифровые. Серия ТТЛК155ЛА2, К155ЛАЗ, К155ТМ2 |