Каталог документов

Контент

01 / 01

Документы по классификатору

ГОСТ Р 57394-2017 Микросхемы интегральные и приборы полупроводниковые. Методы ускоренных испытаний на безотказность

            
                Вернуться в начало каталога
            		

    Вернуться назад
 
ГОСТ Р 57394-2017 входит в следующие классификаторы и разделы
ПромЭкспертРАЗДЕЛ I. ТЕХНИЧЕСКОЕ РЕГУЛИРОВАНИЕ  V Испытания и контроль  4 Испытания и контроль продукции  4.15 Испытания и контроль продукции электронной, оптической и электротехнической промышленности  4.15.2 Оборудование и аппаратура для радио, телевидения и связи
Классификатор ISO31  ЭЛЕКТРОНИКА  31.080  Полупроводниковые приборы  31.080.01 Полупроводниковые приборы в целом
Классификатор ISO31  ЭЛЕКТРОНИКА  31.200 Интегральные схемы. Микроэлектроника
Национальные стандарты31  ЭЛЕКТРОНИКА  31.080  Полупроводниковые приборы  31.080.01 Полупроводниковые приборы в целом
Национальные стандарты31  ЭЛЕКТРОНИКА  31.200 Интегральные схемы. Микроэлектроника

 ГОСТ Р 57394-2017 Микросхемы интегральные и приборы полупроводниковые. Методы ускоренных испытаний на безотказность

Статус: Информация о статусе доступна в коммерческой версии NormaCS. ИУС 7-2017
Текст документа: присутствует в коммерческой версии NormaCS
Страниц в документе: 46
Утвержден: Росстандарт; Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии, 27.02.2017
Обозначение: ГОСТ Р 57394-2017
Наименование: Микросхемы интегральные и приборы полупроводниковые. Методы ускоренных испытаний на безотказность
Ключевые слова: полупроводниковые приборы, интегральные микросхемы, методы ускоренных испытаний на безотказность, кратковременные испытания, длительные испытания.
Дополнительные сведения: доступны через сетевой клиент NormaCS. После установки нажмите на иконку рядом с названием документа для его открытия в NormaCS

ГОСТ Р 57394-2017 Микросхемы интегральные и приборы полупроводниковые. Методы ускоренных испытаний на безотказность


Пожалуйста, дождитесь загрузки страницы...