IEEE

IEEE 660-1986

IEEE Standard for Semiconductor Memory Test Pattern Language

IEEE 660-1986

IEEE Standard for Semiconductor Memory Test Pattern Language


Не действует

Дата ввода
18.02.1986
Дата утверждения
Тип Цена
Электронная версия ( PDF ) 79.50
Печатная копия По запросу
Redline - Электронная версия ( PDF ) По запросу
Redline - Печатная копия По запросу

Наименования

IEEE 660-1986 IEEE Standard for Semiconductor Memory Test Pattern Language

Утверждено

Информация отсутствует

Область применения

The scope of this standard is the definition of a descriptive language, including vocabulary and grammar, to describe functional test sequences (also called patterns) for memory devices.

Разделы

[2] IEEE Computer Society

Изменения

Информация отсутствует

Основополагающие документы

Информация отсутствует

Документ заменяют

Информация отсутствует

Документ заменил

Информация отсутствует

Основополагающие документы

Информация отсутствует