IEEE

IEEE 592-1990

IEEE Standard for Exposed Semiconducting Shields on High-Voltage Cable Joints and Separable Insulated Connectors

IEEE 592-1990

IEEE Standard for Exposed Semiconducting Shields on High-Voltage Cable Joints and Separable Insulated Connectors


IEEE 592-1990

Стандарт IEEE для выдержан полупроводниковым Шилдс на высоковольтных кабельных муфт и седарабедЬ- Изолированный Разъемы


Не действует

Дата ввода
05.02.1991
Дата утверждения
Тип Цена
Электронная версия ( PDF ) 151.50
Печатная копия По запросу
Redline - Электронная версия ( PDF ) По запросу
Redline - Печатная копия По запросу

Наименования

IEEE 592-1990 IEEE Standard for Exposed Semiconducting Shields on High-Voltage Cable Joints and Separable Insulated Connectors

IEEE 592-1990 Стандарт IEEE для выдержан полупроводниковым Шилдс на высоковольтных кабельных муфт и седарабедЬ- Изолированный Разъемы

Утверждено

Информация отсутствует

Область применения

This standard covers design tests for shield resistance and a simulated fault-current initiation for exposed semiconducting shields used on cable accessories, specifically joints and separable insulated connectors rated 15 kV through 35 kV.

Разделы

[4] IEEE Power and Energy Society

Изменения

Информация отсутствует

Основополагающие документы

Информация отсутствует

Документ заменяют

Информация отсутствует

Документ заменил

Информация отсутствует

Основополагающие документы

Информация отсутствует