IEEE

IEEE C62.35-2010/Cor 1-2018

IEEE Standard Test Methods for Avalanche Junction Semiconductor Surge-Protective Device Components--Corrigendum 1

IEEE C62.35-2010/Cor 1-2018

IEEE Standard Test Methods for Avalanche Junction Semiconductor Surge-Protective Device Components--Corrigendum 1


IEEE C62.35-2010/Cor 1-2018

IEEE Стандартных методы испытаний для лавинных Распределительных полупроводниковых скачков Защитных компонент устройства - Исправление-


Действует

Дата ввода
12.12.2018
Дата утверждения
Тип Цена
Электронная версия ( PDF ) По запросу
Печатная копия По запросу
Redline - Электронная версия ( PDF ) По запросу
Redline - Печатная копия По запросу

Наименования

IEEE C62.35-2010/Cor 1-2018 IEEE Standard Test Methods for Avalanche Junction Semiconductor Surge-Protective Device Components--Corrigendum 1

IEEE C62.35-2010/Cor 1-2018 IEEE Стандартных методы испытаний для лавинных Распределительных полупроводниковых скачков Защитных компонент устройства - Исправление-

Утверждено

Информация отсутствует

Область применения

No change to document scope only to item 8.8.1b) on page 13, the word "maximum" should be "minimum"

Разделы

[4] IEEE Power and Energy Society

Изменения

Информация отсутствует

Основополагающие документы

Информация отсутствует

Документ заменяют

Информация отсутствует

Документ заменил

Информация отсутствует

Основополагающие документы

Информация отсутствует