IEEE

IEEE C62.59-2019

IEEE Standard for Test Methods and Preferred Values for Silicon PN-Junction Clamping Diodes

IEEE C62.59-2019

IEEE Standard for Test Methods and Preferred Values for Silicon PN-Junction Clamping Diodes


IEEE C62.59-2019

Стандарт IEEE для методов испытаний и предпочтительных значения для кремния PN-Junction Зажимных Диодов


Действует

Дата ввода
31.10.2019
Дата утверждения
Тип Цена
Электронная версия ( PDF ) 94.50
Печатная копия 118.50
Redline - Электронная версия ( PDF ) По запросу
Redline - Печатная копия По запросу

Наименования

IEEE C62.59-2019 IEEE Standard for Test Methods and Preferred Values for Silicon PN-Junction Clamping Diodes

IEEE C62.59-2019 Стандарт IEEE для методов испытаний и предпочтительных значения для кремния PN-Junction Зажимных Диодов

Утверждено

Информация отсутствует

Область применения

This standard sets terms, test methods, test circuits, measurement procedures and preferred result values for diodes with one or more silicon PN-junctions used for surge voltage clamping in low-voltage systems.The technology types covered are:- Forward biased diodes- Zener breakdown diodes- Avalanche breakdown diodes- Punch-through diodes- Foldback diodes

Разделы

[4] IEEE Power and Energy Society

Изменения

Информация отсутствует

Основополагающие документы

Информация отсутствует

Документ заменяют

Информация отсутствует

Документ заменил

Информация отсутствует

Основополагающие документы

Информация отсутствует