IEEE

IEEE/IEC 61671-5-2016

IEC/IEEE International Standard - Automatic Test Markup Language (ATML) Test Adapter Description

IEEE/IEC 61671-5-2016

IEC/IEEE International Standard - Automatic Test Markup Language (ATML) Test Adapter Description


IEEE/IEC 61671-5-2016

IEC / IEEE Международный стандарт - Автоматический тест Markup Language (ATML) Адаптер Описание теста


Действует

Дата ввода
08.04.2016
Дата утверждения
Тип Цена
Электронная версия ( PDF ) 93.00
Печатная копия 114.00
Redline - Электронная версия ( PDF ) По запросу
Redline - Печатная копия По запросу

Наименования

IEEE/IEC 61671-5-2016 IEC/IEEE International Standard - Automatic Test Markup Language (ATML) Test Adapter Description

IEEE/IEC 61671-5-2016 IEC / IEEE Международный стандарт - Автоматический тест Markup Language (ATML) Адаптер Описание теста

Утверждено

Информация отсутствует

Область применения

This standard defines an exchange format, utilizing XML, for both the static description of a test adapter bydefining the interface between the UUT and the test station, and the specific description of test adapter instance information.

Разделы

[7] IEEE-SASB Coordinating Committees

Изменения

Информация отсутствует

Основополагающие документы

Информация отсутствует

Документ заменяют

Информация отсутствует

Документ заменил

Информация отсутствует

Основополагающие документы

Информация отсутствует