IEEE

IEEE 1505.1-2019

IEEE Standard for the Common Test Interface Pin Map Configuration for High-Density, Single-Tier Electronics Test Requirements Utilizing IEEE Std 1505

IEEE 1505.1-2019

IEEE Standard for the Common Test Interface Pin Map Configuration for High-Density, Single-Tier Electronics Test Requirements Utilizing IEEE Std 1505


IEEE 1505.1-2019

Стандарт IEEE для Common Interface Test Configuration Pin Карта для высокой плотности, одноуровневой Electronics Испытательные Требования Используя IEEE Std 1505


Действует

Дата ввода
20.08.2019
Дата утверждения
Тип Цена
Электронная версия ( PDF ) 228.00
Печатная копия 285.00
Redline - Электронная версия ( PDF ) По запросу
Redline - Печатная копия По запросу

Наименования

IEEE 1505.1-2019 IEEE Standard for the Common Test Interface Pin Map Configuration for High-Density, Single-Tier Electronics Test Requirements Utilizing IEEE Std 1505

IEEE 1505.1-2019 Стандарт IEEE для Common Interface Test Configuration Pin Карта для высокой плотности, одноуровневой Electronics Испытательные Требования Используя IEEE Std 1505

Утверждено

Информация отсутствует

Область применения

The scope of this standard is the definition of a physical pin map utilizing the IEEE 1505(TM) receiver fixture interface (RFI). The pin map defined within this standard shall apply to military and aerospace automatic test equipment (ATE) testing applications.

Разделы

[7] IEEE-SASB Coordinating Committees

Изменения

Информация отсутствует

Основополагающие документы

Информация отсутствует

Документ заменяют

Информация отсутствует

Документ заменил

Информация отсутствует

Основополагающие документы

Информация отсутствует