IEEE
IEEE/IEC 63003-2015
IEC/IEEE International standard for the common test interface pin map configuration for high-density, single-tier electronics test requirements utilizing IEEE Std 1505(TM)
| Тип | Цена | |
|---|---|---|
| Электронная версия ( PDF ) | 465.00 | |
| Печатная копия | 576.00 | |
| Redline - Электронная версия ( PDF ) | По запросу | |
| Redline - Печатная копия | По запросу |
Наименования
IEEE/IEC 63003-2015 IEC/IEEE International standard for the common test interface pin map configuration for high-density, single-tier electronics test requirements utilizing IEEE Std 1505(TM)
Утверждено
Информация отсутствует
Область применения
The scope of this standard is the definition of a pin map utilizing the IEEE 1505(TM) 1 receiver fixture interface (RFI). The pin map defined within this standard shall apply to military and aerospace automatic test equipment (ATE) testing applications.
Разделы
[7] IEEE-SASB Coordinating Committees
Изменения
Информация отсутствует
Основополагающие документы
Информация отсутствует
Документ заменяют
Информация отсутствует
Документ заменил
Информация отсутствует
Основополагающие документы
Информация отсутствует