IEEE

IEEE/IEC 63003-2015

IEC/IEEE International standard for the common test interface pin map configuration for high-density, single-tier electronics test requirements utilizing IEEE Std 1505(TM)

IEEE/IEC 63003-2015

IEC/IEEE International standard for the common test interface pin map configuration for high-density, single-tier electronics test requirements utilizing IEEE Std 1505(TM)

Действует

Дата ввода
30.12.2015
Дата утверждения
Тип Цена
Электронная версия ( PDF ) 465.00
Печатная копия 576.00
Redline - Электронная версия ( PDF ) По запросу
Redline - Печатная копия По запросу

Наименования

IEEE/IEC 63003-2015 IEC/IEEE International standard for the common test interface pin map configuration for high-density, single-tier electronics test requirements utilizing IEEE Std 1505(TM)

Утверждено

Информация отсутствует

Область применения

The scope of this standard is the definition of a pin map utilizing the IEEE 1505(TM) 1 receiver fixture interface (RFI). The pin map defined within this standard shall apply to military and aerospace automatic test equipment (ATE) testing applications.

Разделы

[7] IEEE-SASB Coordinating Committees

Изменения

Информация отсутствует

Основополагающие документы

Информация отсутствует

Документ заменяют

Информация отсутствует

Документ заменил

Информация отсутствует

Основополагающие документы

Информация отсутствует