IEEE
ANSI/IEEE 300-1982
IEEE Standard Test Procedures for Semiconductor Charged-Particle Detectors
Тип | Цена | |
---|---|---|
Электронная версия ( PDF ) | 79.50 | |
Печатная копия | По запросу | |
Redline - Электронная версия ( PDF ) | По запросу | |
Redline - Печатная копия | По запросу |
Наименования
ANSI/IEEE 300-1982 IEEE Standard Test Procedures for Semiconductor Charged-Particle Detectors
ANSI/IEEE 300-1982 Процедуры Стандарт IEEE испытаний для полупроводниковых детекторов заряженных частиц
Утверждено
Информация отсутствует
Область применения
This standard applies to semiconductor radiation detectors which are used for the detection and high-resolution spectroscopy of charged particles. The measurement techniques described have been selected to be readily available to all manufacturers and users of charged-particle detectors. Some superior techniques are not included because the methods are t o o complex or require equipment (such as particle accelerators) which may not be readily available. Test procedures for the associated amplifiers and preamplifiers are described in ANSI/IEEE Std 301-1976, IEEE Standard Test Procedures for Amplifiers and Preamplifiers for Semiconductor Radiation Detectors for Ionizing Radiation, and the equivalent international publication IEC 340.
Разделы
[9] Нераспределенные
Изменения
Информация отсутствует
Основополагающие документы
Информация отсутствует
Документ заменяют
Информация отсутствует
Документ заменил
Информация отсутствует
Основополагающие документы
Информация отсутствует
Шаг 1 из 5
Вы находитесь в карточке документа.
В ней вы можете подробнее ознакомиться с документом и посмотреть список аналогов.
ДалееШаг 2 из 5
Чтобы ознакомиться со списком аналогов для текущего документа нажмите на кнопку
«Посмотреть аналоги»
Шаг 3 из 5
Сейчас вы видите список автоматически подобранных аналогов для ранее просмотренного документа.
ДалееШаг 4 из 5
Чтобы посмотреть список совпадающих требований стандартов нажмите на кнопку «Таблица соответствий».
Шаг 5 из 5
В таблице представлен список совпадающих требований между изначальным документом и документом, выбранным из списка аналогов.
ПонятноПоздравляем!
Вы успешно прошли обучение по работе с подбором аналогов магазина стандартов Индиго.Софт.
Вернуться в магазин