IEEE

IEEE 300-1969

USA Standard and IEEE Test Procedure for Semiconductor Radiation Detectors (For Ionizing Radiation)

IEEE 300-1969

USA Standard and IEEE Test Procedure for Semiconductor Radiation Detectors (For Ionizing Radiation)

Действует

Дата ввода
30.11.1968
Дата утверждения
Тип Цена
Электронная версия ( PDF ) 79.50
Печатная копия По запросу
Redline - Электронная версия ( PDF ) По запросу
Redline - Печатная копия По запросу

Наименования

IEEE 300-1969 USA Standard and IEEE Test Procedure for Semiconductor Radiation Detectors (For Ionizing Radiation)

IEEE 300-1969 США Стандартные и Методика испытаний IEEE для полупроводниковых детекторов излучения (для ионизирующих излучений)

Утверждено

Информация отсутствует

Область применения

The definition of a semiconductor radiation detector herein will be: A semiconductor device that utilizes the production and motion of excess free charge carriers for the detection and measurement of incident radiation. Test procedures for the associated amplifiers and preamplifiers are described in "USA Standard and IEEE Test Procedure for Amplifiers and Preamplifiers for Semiconductor Radiation Detectors" (USAS N42.2 and IEEE 301).

Разделы

[9] Нераспределенные

Изменения

Информация отсутствует

Основополагающие документы

Информация отсутствует

Документ заменяют

Информация отсутствует

Документ заменил

Информация отсутствует

Основополагающие документы

Информация отсутствует