IEEE

IEEE 1149.1-2013

IEEE Standard for Test Access Port and Boundary-Scan Architecture

IEEE 1149.1-2013

IEEE Standard for Test Access Port and Boundary-Scan Architecture


IEEE 1149.1-2013

Стандарт IEEE для порта тестирования доступа и граничного сканирования архитектуры


Действует

Дата ввода
13.05.2013
Дата утверждения
Тип Цена
Электронная версия ( PDF ) 451.50
Печатная копия 541.50
Redline - Электронная версия ( PDF ) По запросу
Redline - Печатная копия По запросу

Наименования

IEEE 1149.1-2013 IEEE Standard for Test Access Port and Boundary-Scan Architecture

IEEE 1149.1-2013 Стандарт IEEE для порта тестирования доступа и граничного сканирования архитектуры

Утверждено

Информация отсутствует

Область применения

This standard defines test logic that can be included in an integrated circuit to provide standardized approaches to: Testing the interconnections between integrated circuits once they have been assembled onto a printed circuit board or other substrate - Testing the integrated circuit itself - Observing or modifying circuit activity during the component’s normal operation The test logic consists of a boundary-scan register and other building blocks and is accessed through a test access port (TAP).

Разделы

IEEE [2] IEEE Computer Society

Изменения

Информация отсутствует

Основополагающие документы

Информация отсутствует

Документ заменяют

Информация отсутствует

Документ заменил

Информация отсутствует

Основополагающие документы

Информация отсутствует