IEEE

IEEE 1149.4-2010

IEEE Standard for a Mixed-Signal Test Bus

IEEE 1149.4-2010

IEEE Standard for a Mixed-Signal Test Bus


IEEE 1149.4-2010

Стандарт IEEE для смешанных сигналов тестирования шины


Не действует

Дата ввода
18.03.2011
Дата утверждения
Тип Цена
Электронная версия ( PDF ) 363.00
Печатная копия 448.50
Redline - Электронная версия ( PDF ) По запросу
Redline - Печатная копия По запросу

Наименования

IEEE 1149.4-2010 IEEE Standard for a Mixed-Signal Test Bus

IEEE 1149.4-2010 Стандарт IEEE для смешанных сигналов тестирования шины

Утверждено

Информация отсутствует

Область применения

This standard defines a mixed-signal test bus architecture that provides the means of control and access to both analog and digital test signals such that the testability structure for digital circuits described in IEEE Std 1149.1-2001 has been extended effectively to provide similar facilities for mixed-signal circuits. In addition to testing of interconnections in the conventional sense of IEEE Std 1149.1-2001, the mixed-signal test bus defined by this standard also provides the means for parametric testing and, optionally, the means to access internal test structures. The standard does not mandate implementation details of the test circuitry, although examples of conformant implementations are given for illustration. Further, the standard develops extensions to Boundary-Scan Description Language (BSDL) as a means of describing key aspects of the implementation of this standard within a particular component. At present, the extensions to BSDL defined by this standard specifically omit the description of any and all analog parameters defined by the standard.

Разделы

[2] IEEE Computer Society

Изменения

Информация отсутствует

Основополагающие документы

Информация отсутствует

Документ заменяют

Информация отсутствует

Документ заменил

Информация отсутствует

Основополагающие документы

Информация отсутствует