IEEE

IEEE 1620-2008

IEEE Standard for Test Methods for the Characterization of Organic Transistors and Materials

IEEE 1620-2008

IEEE Standard for Test Methods for the Characterization of Organic Transistors and Materials


IEEE 1620-2008

Стандарт IEEE для методов испытаний для определения характеристик органических транзисторов и материалов


Не действует

Дата ввода
05.12.2008
Дата утверждения
Тип Цена
Электронная версия ( PDF ) 138.00
Печатная копия По запросу
Redline - Электронная версия ( PDF ) По запросу
Redline - Печатная копия По запросу

Наименования

IEEE 1620-2008 IEEE Standard for Test Methods for the Characterization of Organic Transistors and Materials

IEEE 1620-2008 Стандарт IEEE для методов испытаний для определения характеристик органических транзисторов и материалов

Утверждено

Информация отсутствует

Область применения

This standard describes a method for characterizing organic electronic devices, including measurement techniques, methods of reporting data, and the testing conditions during characterization.

Разделы

IEEE [2] IEEE Computer Society

Изменения

Информация отсутствует

Основополагающие документы

Информация отсутствует

Документ заменяют

Информация отсутствует

Документ заменил

Информация отсутствует

Основополагающие документы

Информация отсутствует