IEEE

IEEE 1149.7-2009

IEEE Standard for Reduced-Pin and Enhanced-Functionality Test Access Port and Boundary-Scan Architecture

IEEE 1149.7-2009

IEEE Standard for Reduced-Pin and Enhanced-Functionality Test Access Port and Boundary-Scan Architecture


IEEE 1149.7-2009

Стандарт IEEE для Reduced-Pin и усовершенствованным Функциональные испытания Порт доступа и Boundary-Scan Architecture


Не действует

Дата ввода
10.02.2010
Дата утверждения
Тип Цена
Электронная версия ( PDF ) 519.00
Печатная копия 612.00
Redline - Электронная версия ( PDF ) По запросу
Redline - Печатная копия По запросу

Наименования

IEEE 1149.7-2009 IEEE Standard for Reduced-Pin and Enhanced-Functionality Test Access Port and Boundary-Scan Architecture

IEEE 1149.7-2009 Стандарт IEEE для Reduced-Pin и усовершенствованным Функциональные испытания Порт доступа и Boundary-Scan Architecture

Утверждено

Информация отсутствует

Область применения

The standard will define a link between IEEE 1149.1 interfaces in Debug and Test Systems (DTS) and IEEE 1149.1 (JTAG) interfaces in Target Systems (TS). The link defined by this standard introduces an additional layer between these legacy interfaces. This layer may be viewed as an adapter that provides new functionality and features while preserving all elements of the original IEEE 1149.1 (JTAG) interfaces. The standard will define the link behavior (including timing characteristics of signals), protocols, and functionality of the adapters deployed within the DTS and TS. The standard will not modify or createinconsistencies with IEEE 1149.1 (JTAG). The standard will define a superset of the IEEE 1149.1 specification and achieve compliance with IEEE Std 1149.1TM-2001.

Разделы

[2] IEEE Computer Society

Изменения

Информация отсутствует

Основополагающие документы

Информация отсутствует

Документ заменяют

Информация отсутствует

Документ заменил

Информация отсутствует

Основополагающие документы

Информация отсутствует