IEEE

IEEE 1003.3-1991

IEEE Standard for Information Technology--Test Methods for Measuring Conformance to POSIX(R)

IEEE 1003.3-1991

IEEE Standard for Information Technology--Test Methods for Measuring Conformance to POSIX(R)


IEEE 1003.3-1991

Стандарт IEEE по информационным технологиям - Методы испытаний для измерения соответствия стандарту POSIX (R)


Не действует

Дата ввода
15.04.1991
Дата утверждения
Тип Цена
Электронная версия ( PDF ) 90.00
Печатная копия По запросу
Redline - Электронная версия ( PDF ) По запросу
Redline - Печатная копия По запросу

Наименования

IEEE 1003.3-1991 IEEE Standard for Information Technology--Test Methods for Measuring Conformance to POSIX(R)

IEEE 1003.3-1991 Стандарт IEEE по информационным технологиям - Методы испытаний для измерения соответствия стандарту POSIX (R)

Утверждено

Информация отсутствует

Область применения

This standard is applicable to the development and use of conformance testing methodologies for POSE standards. The generic test methods identified in this standard shall be used in conjunction with test methods identified for a specific standard.This standard is intended for use by working groups developing test methods for POSM standards, developers of POSM test methods, and users of POSIX test methods.The purpose of this standard is to define general rules for developing test assertions and related test methods for measuring conformance of an implementation to POSE standards. Test methods may include POSM Conformance Test Suites (PCTS), POSE Conformance Test Procedures (PCTP), and audita of POSM Conformance Documents (PCD).Testing conformance of an implementation to a standard includes testing the claimed capabilities and behavior of the implementation with respect to the conformance requirements of the standard. Test methods are intended to provide a reasonable, practical assurance that the implementation conforms to the standard.Use of these test methods will not guarantee conformance of an implementation to the standard; that normally would require exhaustive testing (see 4.2.11, which is impractical for both technical and economic reasons.

Разделы

IEEE [2] IEEE Computer Society

Изменения

Информация отсутствует

Основополагающие документы

Информация отсутствует

Документ заменяют

Информация отсутствует

Документ заменил

Информация отсутствует

Основополагающие документы

Информация отсутствует