IEEE

IEEE P1500

IEEE Draft Standard Testability Method for Embedded Core-based Integrated Circuits

IEEE P1500

IEEE Draft Standard Testability Method for Embedded Core-based Integrated Circuits


Действует

Дата ввода
Дата утверждения
Тип Цена
Электронная версия ( PDF ) По запросу
Печатная копия По запросу
Redline - Электронная версия ( PDF ) По запросу
Redline - Печатная копия По запросу

Наименования

IEEE P1500 IEEE Draft Standard Testability Method for Embedded Core-based Integrated Circuits

Утверждено

Информация отсутствует

Область применения

IEEE Std 1500 is a standard design-for-testability method for integrated circuits (ICs) containing embedded nonmergeable cores. This method is independent of the underlying functionality of the IC or its individual embedded cores. The method supports the necessary requirements for the test of such ICs, while allowing for ease of interoperability of cores that may have originated from different sources. This method is usable for all classes of digital cores, including hierarchical cores.

Разделы

IEEE [2] IEEE Computer Society

Изменения

Информация отсутствует

Основополагающие документы

Информация отсутствует

Документ заменяют

Информация отсутствует

Документ заменил

Информация отсутствует

Основополагающие документы

Информация отсутствует